큐알티가 전력반도체 게이트 옥사이드 불량도 조기에 확인할 수 있는 솔루션을 내놨다.

큐알티는 TDDB 수명 평가 서비스를 출시한다고 20일 밝혔다.

이 서비스는 국제 반도체표준협의기구(JEDEC)의 신뢰성 평가 표준 'JESD 92'에 맞춰 설계됐다. 초박형 게이트 산화물의 마모 등 가속도 매개변소를 추정하기 위한 규정이다.

전력반도체는 자동차와 전자 제품 등 다양한 분야에 쓰이고 있다. 그 중에서도 가혹 조건에서 주로 사용되는 실리콘 카바이드(SiC)가 내부 결정이 복잡해 결함을 찾기 어려웠던 상황, 큐알티는 50V 전압과 120도 열 등 조건의 시험 환경을 구축해 조기 파악을 가능하게 했다.

큐알티는 테스트 도중 전력반도체 불량이 발생하면 신속하게 원인을 분석하고 성능을 개선할 수 있도록 불량 위치를 판별하는 종합분석 서비스도 연계했다. 해당 서비스를 통해 신뢰성 테스트가 가능한 전력반도체는 현재 실리콘 카바이드(SiC)부터 MOSFET(모스펫), IGBT(절연게이트 양극성 트랜지스터)까지 다양하다.

김기석 큐알티 기술연구소장은 "친환경 정책으로 전기차에 대한 수요가 늘어나면서, 전력반도체에 대한 안전성 평가가 반도체 산업의 핵심 이슈로 떠오르고 있다"며, "구동 과정에서 인버터 내 문제가 발생하지 않도록 신뢰성 테스트를 기반으로 한 철저한 사전 예방이 필요하다"고 말했다.